
近紅外全角度透反射測量系統(tǒng),900-2500nm,應(yīng)用于材料測量領(lǐng)域
樣品材料中的很多成份,當(dāng)光束以不同的角度入射時,得到的透射率和反射率會因入射角度的變化而變化。通過測量不同角度入射,可獲取材料在正入射時所得不到的信息,確定材料的最敏感角度,可以為進一步的研究或設(shè)計測量儀器提供依據(jù)。
我們提供可見-近紅外全角度透反射測量系統(tǒng)搭配光譜儀和其他測量附件,可以實現(xiàn)光源的不同角度入射和接收,適用于mm量級樣品的透射光譜測量及反射光譜測量。透反射光譜測量系統(tǒng)采用電控獨立雙軸設(shè)計,配備高精度步進電機,控制發(fā)射端和接收端的角度測量,角分辨率達0.001°,重復(fù)精度達0.05°。光譜范圍覆蓋900-2500nm,通過軟件控制發(fā)射端和接收端的角度,實現(xiàn)快速的光譜測量,可用于透射/反射/散射/熒光/輻射等多種全角度模式的光譜測量。
主要特點:
-全角度測量:反射和透射,可以實現(xiàn)-90°至90°范圍測量,散射、熒光和輻射,可以實現(xiàn)0°至180°測量。
-多種角度測量模式:可以進行反射、透射、熒光、散射輻射等多種光譜測量
-精確角度控制:高精度電機,角度精度達0.05°
-多維調(diào)節(jié)樣品臺:樣品臺由高精度三維位移臺和三維旋轉(zhuǎn)臺組成,可實現(xiàn)樣品的6維調(diào)節(jié)
技術(shù)參數(shù):
-快速測量:快速對樣品實現(xiàn)多種角度模式的光譜測量
-可選配件多樣:根據(jù)客戶的不同測量應(yīng)用,可以選擇不同的光源、濾光片、偏振片等配件完成不同的測量應(yīng)用
多種全角度測量模式:
光譜角度測量模式:
反射式角度測量模式:鏡面樣品的反射夾角0°~180°,實現(xiàn)光譜的全角度測量。
透射式角度測量模式:入射角-90°~90°,接收角和入射角成180°(同一直線),實現(xiàn)透射光譜的全角度測量。
散射和熒光角度測量模式:入射角-90°~90°的任意角度上變化,接收角0°~360°范圍內(nèi)變化,實現(xiàn)散射和熒光光譜的全角度測量。
輻射角度測量模式:接收角0~360°范圍內(nèi)變化。
主要應(yīng)用:
-納米光學(xué)材料
-材料鍍膜
-光子晶體器件
-傳感器器件制備
-LED光源
-液晶顯示
-角度相關(guān)材料分析
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