集成電路高溫動態(tài)老化系統(tǒng)
產(chǎn)品詳情
符合標(biāo)準(zhǔn)：GJB548（等同MIL-STD-883）、GJB 597（等同MIL-M-38510）
適用范圍：
適用于對各種數(shù)字、模擬、數(shù)模混合集成電路和SOC電路、微處理器、存儲器等微電子電路進(jìn)行高溫動態(tài)老化試驗。
工作特性:
● 一板一區(qū)工作方式，較多可同時進(jìn)行16種規(guī)格、批次的器件進(jìn)行篩選試驗，適應(yīng)多品種、小批量。
● **溫報警裝置，確保溫度條件*施加。
● 可檢測各組電源工作情況及試驗箱溫度并描繪其與時間相關(guān)的曲線。
● 軟件全編輯信號產(chǎn)生方式，可滿足包括存儲器在內(nèi)的多種集成電路器件的動態(tài)老化要求。
● 集成的用戶軟件包基于WINDOWS平臺開發(fā)，功能完備并有良好的可擴(kuò)展性。
●　主從式RS485全雙工高速串行通訊接口，遠(yuǎn)距離通訊能力強，數(shù)據(jù)傳輸***。
●　試驗容量和系統(tǒng)分區(qū)可根據(jù)實際情況另行配置。
●　試驗箱可選擇兩個小型試驗箱，每個試驗箱裝8塊老化板，可同時進(jìn)行兩個溫度條件的試驗。
●　可提供專用調(diào)式臺，具備獨立的DUT試運行接口和維修接口，方便試驗前或試驗中對DUT和老化板進(jìn)行試驗狀態(tài)檢查。
電子電路進(jìn)行高溫動態(tài)老化試驗。
 技術(shù)性能： 
型  號	ELEA-V	ELEH-V
系統(tǒng)分區(qū)	16區(qū)（標(biāo)準(zhǔn)）
試驗容量	208×16（以DIP14計）	/
試驗溫度	較高150℃
數(shù)字信號路數(shù)	每板64路	每板8路
數(shù)字信號	每路可獨立編輯信號的數(shù)據(jù)、地址、控制、三態(tài)特性；信號較高頻率：2MHz；較小編程分辨率100ns，較小編程步長100ns；編程深度256k；信號幅度程控范圍：2.0V～18.0V；較大尋址深度：64G；數(shù)字信號可采用直接輸入、字符輸入、程序輸入三種方法編程；
模擬信號	多路多種類模擬信號發(fā)生單元及驅(qū)動電路，較高頻率可達(dá)1MHz;較大驅(qū)動電流：1A;信號幅度Vpp20V；直流偏移量：0～1/2Vpp；
試驗狀態(tài)監(jiān)測	64路信號示波監(jiān)測接口；寬范圍數(shù)字、模擬信號頻率自動測試、記錄；二級電源電壓監(jiān)測；
二級電源電流、信號峰值監(jiān)測（可選）
通訊速率	500K
二級電源	可程控VCC、VMUX、VEE；
輸出能力：2V～18V/10A；
具備灌電流能力；	2組正電源：VCC1（+2V~+36V）、VCC2（+2V~+36V）；
2組負(fù)電源：VEE1（-2V~-36V）、VEE2（-2V~-36V）；電流為較大10A；
具有過流、過壓及過熱保護(hù)功能；
電源要求	輸入：AC380V,50Hz,三相（220V單相可選）；
	整機(jī)功率：8kW以下	整機(jī)功率：12kW以下
重   量	約500kg
  外形尺寸    （寬×高×深）	1313mm×1950mm×1350mm