Dage X-ray

X光測試儀設計滿足PCB和半導體工業的增長需求，用戶可以輕松獲取高質量、高放大倍數和高分辨率下的被測物任何方位的圖像。由于采用開管（Open Tube）技術，在放大倍數方面遠遠**過了采用閉管（Closed Tube）技術的X光檢測儀達到亞微米級，能滿足客戶更高精度的需求。


主要特點

DAGE7500 VR X光無損檢測系統
 
主要特征：
-較小分辨率：950納米(0.95 微米)；
-影像接收器左右偏轉角度各70度（共140度），旋轉360度；
-圖像采集:1.3M萬數字CCD；
-較大檢測區域面積: 18”x 16”(458 x 407 mm)；
-較大樣品尺寸: 20”x 17.5”(508 x 444mm)；
-系統較大放大倍數: 至5650X；
-顯示器: 20.1"(DVI interface)數字彩色平板LCD,(1600 x 1200PIXELS)；
-安全性: 在機器表面任何地方X光泄露率 < 1 m Sv/hr 等等

DAGE7600 NT X 光無損檢測系統

-較小分辨率: 250納米(0.25微米)；
-影像接收器左右偏轉角度各70度（共140度），旋轉360度；
-較大檢測區域面積: 18”x 16”(458 x 407 mm )；
-較大樣品尺寸: 20”x 17.5”(508 x 444 mm ) ；
-系統較大放大倍數: 至 6500 X；
-圖像采集: 1.3 M萬數字CCD；
-顯示器: 20.1"(DVI interface)數字彩色平板LCD,(1600 x 1200 PIXELS)；
-安全性: 在機器表面任何地方 X 光泄露率 < 1 m Sv/hr 等等 ……。

 
DAGE XD7800 VR或NT 大尺寸樣品X光無損檢測系統

Dage XD7800VR或NT是專門用于大尺寸樣品的X光無損檢測的系統。

主要特征：
-較小分辨率: 950 納米 (0 .95 微米 )；
-影像接收器左右偏轉角度各70 度（共 140 度），旋轉 360 度；
-較大檢測區域: 24 ” x 30” (610 x 762 mm )；
-較大樣品尺寸: 24.3” x 33” (617 x 838 mm )；
-較大樣品重量: 10KG ；
-系統較大放大倍數: 至 5650 X ；
-圖像采集: 1.3 M 萬數字 CCD ；
-顯示器: 20" (DVI interface) 數字彩色平板 LCD

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公司一貫堅持：

    “*的產品；*的服務；*的合作關系”的經營理念；
    “顧客滿意，共同發展”的經營目標；
    “至誠至信，至新至美”的公司精神；
    “團隊合作，以人為本”的****。 
 　　 
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