測金儀，俗稱貴金屬純度檢測儀，通常有密度法測金儀和熒光光譜測金儀之分
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　　密度法測金儀是利用阿基米德原理，來判讀未知金屬物質密度是否和自然界貴金屬固定密度相吻合，從而初步判斷出未知金屬的種類。
　　熒光光譜測金儀亦稱XRF,設備其分析方法，是具有一定能量分辨率的X射線探測器同時探測樣品所發(fā)出的各種能量特征X射線，探測器輸出信號幅度與接收到的X射線能量成正比，利用能譜儀分析探測器輸出信號的能量大小及強度，對樣品進行定量，定性分析。
　　XRF設備主要優(yōu)勢:
　　1 ) 3秒鐘內可對金銀飾品進行定性識別,30秒～60秒自動計算出首飾的**含量
　　2 ) 對樣品*任何物理和化學處理，即無損檢測金銀飾品
　　3 ) 分析范圍：能夠分析金，鉑，銀，鈀等含量0.3%～99.99%
　　4 ) *性能指針符合地區(qū)標準要求(光線激發(fā)源為MO靶X光管)
　　5) 具有溫濕度自動補償功能
　　6) 符合較嚴格的輻射防護標準的同時更具備簡易的樣品放置和耗材更換模式（采用滑蓋設計）
　　7 ) 探頭指針高，性能好，壽命長；
　　8) 全新32位軟硬件系統(tǒng)，工作**，效率高
9) ****將**的攝像定位技術引入珠寶檢測領域。該攝像定位系統(tǒng)除讓首飾檢測更加直觀、X熒光更集中于目標位置外，還可以將首飾被檢測到的**位置的照片對應于檢測結果，連同計算報告一起打印出來。