Chemplex樣品薄膜
 型號：090，250
 **：Chemplex
 產地：美國
 
 一、產品介紹： 
 在用X熒光光譜儀進行ROHS檢測，WEEE檢測和一般材料成分分析時，由于樣品的不規則（特別是液體、粉末等），需要借助樣品杯和薄膜輔助檢測；但不合適的樣品薄膜往往造成樣品污染并影響材料成分分析的X射線信號和檢測結果。
 選擇適當的薄膜材料對于分析結果至關重要。 在現有的眾多不同的物質類型中，只有為數不多的幾種具備能滿足光譜化學需要的一致性和化學、物理屬性。
 
 
 如何選擇薄膜樣本支撐窗材料？
 適當的薄膜樣本支撐窗的選擇主要以滿足首要重要的實驗室要求為基礎：
 使用方便快捷；
 避免造成待測樣品污染；
 優越的分析物透射比與強度；
 對待測樣品的耐化學性。
 
 
 Chemplex Industries有限公司**從事樣品前處理設備、耗材研發和生產的公司，是X射線光譜儀（XRF）配件耗材領域的****廠商。
 Chemplex XRF樣品杯和樣品薄膜用于RoHS、WEEE**測試儀器盛放小顆粒固體，粉末，液體，適用于各種**的X射線熒光光譜儀。Chemplex樣品薄膜薄膜張力特性較佳，與樣品杯組合使用，適合盛放各類金屬重物、液體或粉末。對特別配制的塑料和保持其物理和化學屬性一致性的特別關注，使得Chemplex XRF樣本杯、樣品薄膜在XRF物質成分分析應用范圍和性能上**。Chemplex的許多XRF樣本杯、樣品薄膜被列為新穎*特的設計和應用，并被美國專利商標局授予知識產權地位。
 
 
 林奧儀器作為美國Chemplex公司的中國代理商，提供Chemplex所有系列用于對應歐盟ROHS和WEEE環保檢測儀器——X射線熒光光譜儀（XRF）的檢測實驗消耗產品！
 我們不僅能夠為您提供樣品薄膜、樣品杯, 還可根據您的樣品應用為您選擇、定制合適的樣品薄膜、樣品杯。
 
 二、適用儀器：
 德國斯派克Spectro、英國牛津Oxford、日本堀場Horiba、飛利浦/帕納科Philips/Panalytical、德國布魯克 Bruker、美國賽默飛世爾科技（熱電）Thermo，瑞士ARL及日本理學Rigaku, Siemens, Spectrace,Jordan, Kevex, Metorex,Fisons, Asoma，Venus 200,Valley等生產的X熒光光譜儀(XRF)。
 （適用X 射線熒光光譜儀**型號：所有X射線熒光光譜儀包括：尼通(NITON)：Xlt797z 、Xlt794、Xlt898 ；伊諾斯(Innov-X)：AlPHA6000；牛津(Oxford)：Met-5000；帕納科(Panalytical)：Minipal4、 Minipal2；精工(Seiko)：SEA1000A；斯派克（Spectro）：XEPOS、MIDEX M；熱電(Thermo)：ARL Quant’X；日本電子（JEOL）JSX－3400R；Horriba等。）
 
 三、SPECTROMEMBRANE?樣品薄膜
 隨著SpectroMembrane?樣本支撐托架的面世，在處理薄膜時用戶不再需要擔心靜電附著或潛在的污染風險或吸引空中顆粒等問題。除樣本杯外，薄膜不再近距離接觸其它任何物體。薄膜處理將通過使用集成的托框完成，托框能夠在組裝過程中自動分離，留下繃緊的薄膜樣本平面。
 SpectroMembrane?薄膜樣本支撐托架由一塊粘在托架上作為支撐物的薄膜樣本支撐物質組成。在把薄膜物質粘在XRF樣本杯上時，薄膜物質并不會被直接處理，這就*了污染的可能性。接近完成或在完成附著時，薄膜將自動從托架上分離，留下繃緊的無皺樣本支撐窗。