白光干涉儀供應商，白光干涉儀批發，白光干涉儀價格，白光干涉儀圖片AE-100MAE-100M產品用途     結合光學顯微鏡與白光干涉儀功能的掃描式白光干涉顯微鏡，結合顯微物鏡與干涉儀、不需要復雜光調整程序，兼顧體積小、納米分辨率、易學易用等優點，可提供垂直掃描高度達400um的微三維測量，適合各種材料與微組件表面特征和微尺寸檢測。應用領域包含產品特點● 納米深度3D檢測● 高速/無接觸量● 表面形狀/粗糙度分析● 非透明/透明材質皆適用● 非電子束/非鐳射的安全量測● 低維護成本專業級的3D圖形處理與分析軟體（Post Topo）●  提供多功能又具親和接口的3D圖形處理與分析●  提供自動表面平整化處理功能●  提供高階標準片的軟件自校功能●  深度/高度分析功能提供線型分析與區域分析等兩種方式●  線型分析方式提供直接追溯ISO定義的表面粗糙度（Rorghness）與起伏度●  （waviness）的測量分析。可提供多達17種的ISO量測參數與4種額外量測數據（Wafer）●  區域分析方式提供圖形分析與統計分析。●  具有平滑化、銳化與數字過濾波等多種二維快速利葉轉換（FFT）處理功能。●  量測分析結果以BMP等多種圖形檔案格式輸出或是Excel文本文件格式輸出高速精密的干涉解體軟體(ImaScan)● 系統硬件搭配ImgScan前處理軟件自動解析白光干涉條紋● 垂直高度可達0.1nm● 高度的分析算法則，讓你不在苦候測量結果● 垂直掃描范圍的設定輕松又容易● 有10X、20X、50X倍率的物鏡可供選擇● 平臺XYZ位置數顯示，使檢標的尋找快速又便利● 具有手動/自動光強度調整功能以取得最佳的干涉條紋對比。● 具有高精度的PVSI與高速VSI掃描測量模式供選擇。● 具有專利的解析算法則可處理半透明物體的3D形貌。● 具有自動布補點功能● 可自行設定掃描方向技術規格參數型號AE-100M移動臺(mm)平臺尺寸100*100 ，行程13*13物鏡放大倍率10X20X50X觀察與量測范圍0.43*0.320.21*0.160.088*0.066光學分辨力(um)0.90.690.5收光角度(Degrees)172333工作距離7.44.73.4傳感器分辨率640*480像素機臺重量(kg)/載重kg20kg/小于1kgZ軸移動范圍45mm , 手動細調Z軸位置數字顯示器分辨率1um傾斜調整平臺雙軸/手動調整 高度測量測量范圍100（um)(400um ,選配)量測分辨力0.1mm重復精度≤ 0.1％ (量測高度:>10um)≤10um(量測高度1um 10um)≤ 5nm(量測高度:<1um )量測控制自動掃描速度(um/s)12(最高) 光源光源類型儀器用鹵素（冷）光源平均使用壽命1000小時100W 500小時（150W）光強度調整自動/手動 數據處理與顯示用計算器中央處理運算屏幕雙核心以上CUP影像與數據顯示屏幕17 "; 雙晶屏幕操作系統Windows XP(2)電源與環境要求AC100 --240 V 50-60Hz環境震動VC-C等級以上 量測與分析軟件測量軟件ImScan測量軟件具VSI/ PVS/PSI 測量模式（PSI量測模式需另選配PSI模塊搭配）PosTopo 分析軟件分析軟件ISO 粗燥度/階高分析，快速傳利業轉換和濾波，多樣的2D和3D觀測視角圓，外形/面積/體積分析，圓像縮放、標準影像文件格式轉換報表輸出，程序教導量測等。 導購推薦
加工定制 否 類型 白光干涉儀 品牌 Rational/萬濠 型號 白光干涉儀供應商，白光干涉儀批發，白光干涉儀價格，白光干涉儀圖片AE-100M 品種 其他干涉儀 測量范圍 100um 測量分辨率 0.01mm 最近工作距離 0.43（mm） 用途 各種材料與微組件表面特征和微尺寸檢測

注冊資金:人民幣 2000.00 萬